HRP?-260是一款高分辨率cassette-to-cassette探針式輪廓儀。HRP的性能經(jīng)過生產(chǎn)驗證,能夠進行自動化晶圓裝卸、可為半導體、化合物半導體、高亮度LED、數(shù)據(jù)存儲和相關(guān)行業(yè)提供服務(wù)。P-260配置支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的二維及三維測量,其掃描深度可達200mm而無需圖像拼接。 HRP?-260配置的功能與P-260相同,并增加了能夠?qū)π√卣鬟M行高分辨率和高產(chǎn)量測量的高分辨率平臺。
HRP?-260的雙平臺功能可以進行納米和微米表面形貌的測量。 P-260配置提供長掃描(最長200mm)的功能,無需圖像拼接,HRP?-260提供高分辨率掃描平臺,掃描長度可達90μm。 P-260結(jié)合了UltraLite?傳感器、恒力控制和超平掃描的功能,實現(xiàn)了出色的測量穩(wěn)定性。 HRP?-260采用高分辨率壓電掃描平臺提高性能。 通過采用點擊式平臺控制、低倍和高倍率光學系統(tǒng)以及高分辨率數(shù)碼相機,其程序設(shè)置快速簡便。 HRP?-260支持二維和三維測量,具有各種濾鏡、調(diào)平和數(shù)據(jù)分析算法,以量化表面形貌。 并且通過自動晶圓裝卸、圖案識別、排序和特征檢測以實現(xiàn)全自動測量。




主要功能
· 臺階高:納米至327μm
· 恒力控制的低觸力:0.03至50mg
· 樣品全直徑掃描,無需圖像拼接
· 視頻:在線低倍和高倍放大光學系統(tǒng)
· 圓弧校正:消除由于探針的弧形運動引起的誤差
· 軟件:簡單易用的軟件界面
· 生產(chǎn)能力:通過測序、圖案識別和SECS / GEM實現(xiàn)全自動化
· 晶圓機械傳送臂:自動加載75mm至200mm不透明(例如硅)和透明(例如藍寶石)樣品
· HRP:高分辨率掃描平臺,分辨率類似于AFM

主要應(yīng)用
· 臺階高度:2D和3D臺階高度
· 紋理:2D和3D粗糙度和波紋度
· 外形:2D和3D翹曲和形狀
· 應(yīng)力:2D和3D薄膜應(yīng)力
· 缺陷復檢:2D和3D缺陷表面形貌
