供應(yīng)平面平晶,標(biāo)準(zhǔn)平面平晶,光學(xué)平面平晶,一級平面平晶
*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。
*亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。
*平面平晶特別適用于計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
平面平晶的技術(shù)參數(shù)
| 平面直徑d(mm) |
基本參數(shù) |
| 1級 |
2級 |
| d范圍內(nèi) |
2/3d范圍內(nèi) |
d范圍內(nèi) |
2/3d范圍內(nèi) |
30
45
60 |
0.03 |
---- |
0.1 |
0.05 |
80
100
150 |
0.05 |
0.03 |
200
250
300 |
0.08
0.1
0.15 |
0.05
0.05
0.09 |
0.12
0.15
0.2 |
0.06
0.08
0.1 |
