光學(xué)元件外觀缺陷檢測(cè)設(shè)備

光學(xué)元件外觀缺陷檢測(cè)儀,利用光學(xué)方法，采用權(quán)值成像數(shù)據(jù)分析原理，用來(lái)檢測(cè)光學(xué)元件的表面外觀缺陷問(wèn)題。測(cè)量時(shí)，將待測(cè)產(chǎn)品置于光學(xué)鏡頭下方，逐個(gè)采集每個(gè)產(chǎn)品表面的圖像，并對(duì)圖像進(jìn)行連續(xù)的數(shù)字化處理分析，然后與預(yù)存的“標(biāo)準(zhǔn)”進(jìn)行比較分析進(jìn)而作出缺陷結(jié)論。

 強(qiáng)大的自動(dòng)學(xué)習(xí)功能：
編程簡(jiǎn)單快捷，同時(shí)強(qiáng)大的自動(dòng)學(xué)習(xí)功能，使各種規(guī)格、類型的器件都可以通過(guò)在器件輪廓處畫框?qū)W習(xí)，電腦主板的編程時(shí)間為1.5~2小時(shí)，能很好的適應(yīng)生產(chǎn)線的快速變化。
 極高的易用性：
中英文界面可選，并配備學(xué)習(xí)向?qū)?，操作?jiǎn)單；另外只需要器件的XY坐標(biāo)和電路板的出料單（BOM）或者貼片機(jī)導(dǎo)出文件就可以自動(dòng)學(xué)習(xí)。

  光學(xué)元件外觀缺陷檢測(cè)儀
判別方法：權(quán)值成像數(shù)據(jù)差異分析、彩色成像比對(duì)原理

檢測(cè)內(nèi)容：元件有無(wú)、偏斜、劃痕、缺塊、臟污、印子、污染、缺件、偏移、歪斜、錯(cuò)件、破損、刮傷、灰塵、長(zhǎng)度、寬度、角度、弧度等缺陷。