INGUN探針

INGUN探針，測(cè)試針，用于測(cè)試PCBA的一種探針。表面鍍金，內(nèi)部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧。目前國(guó)外比較有名的生產(chǎn)廠家有：ECT，INGUN， QA ,IDI、Semiprobe 　　探針的材質(zhì)：W，ReW, A+ 

1.目前主要采用的材質(zhì)為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長(zhǎng)，壽命一般。

2.A+材質(zhì)的免清針，這種材質(zhì)彈性較好，測(cè)試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長(zhǎng)。

探針分類  探針根據(jù)電子測(cè)試用途可分為：A、光電路板測(cè)試探針：未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開路、短路檢測(cè)探針，國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品；B、在線測(cè)試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針；高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品；C、微電子測(cè)試探針：即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針，核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。 　　

探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。 

懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環(huán)氧樹脂型（Epoxy Type） 

垂直探針：垂直型（Vertical Type） 

1.ICT探針（ICT series Probes) 一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，行業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試．也稱ICT測(cè)試和FCT測(cè)試．也是目前應(yīng)用較多的一種探針． 　　

2.界面探針(Interface Probes)  非標(biāo)準(zhǔn)的探針，一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶定做的，例如泰瑞達(dá)（Teradyne)和安捷倫（Agilent)．用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面． 　　

3.微型探針（MicroSeries Probes)  兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm． 　　

4.開關(guān)探針（Switch Probes) 　開關(guān)探針單獨(dú)一支探針有兩路電流． 　　

5.高頻探針（Coaxial Probes) 　用于測(cè)試高頻信號(hào)，有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的． 　　

6.旋轉(zhuǎn)探針（Rotator Probes) 　彈力一般不高，因?yàn)槠浯┩感员緛砭秃軓?qiáng)，一般用于OSP處理過的PCBA測(cè)試．