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公司基本資料信息
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| 絕緣子 型號(hào) |
額定 電壓 (kV) |
額定機(jī)械破 壞負(fù)荷 |
高度 (mm) |
絕緣 距離 (mm) |
最小公稱 爬電距離 (mm) |
上附件安裝尺寸 | 下附件安裝尺寸 | 工頻濕耐 受電壓 (kV) (有效值) |
標(biāo)準(zhǔn)雷電沖 擊全波耐受 電壓 (kV) (有效值) |
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| 彎曲 (kN) |
扭轉(zhuǎn) (kN.m) |
孔中心 圓直徑 (mm) |
孔徑 (mm) |
孔 數(shù) | 孔中心 圓直徑 (mm) |
孔徑 (mm) |
孔數(shù) | ||||||||
| 1 | FZS-12/4 | 12 | 4 | / | 210 | 130 | 320 | 76 | M12 | 4 | 100 | 14 | 4 | 40 | 90 |
對(duì)外FZS-12/4復(fù)合支柱絕緣子絕緣表面層存在的氫氧化鋁及其它少量填充劑顆粒時(shí)，表面粘附取向排列二維狀態(tài)線性硅氧烷分子，并受離子構(gòu)成顆粒及線性硅氧烷分子間的交鏈點(diǎn)影響，這部分面積硅氧烷分子末端及活動(dòng)鏈段未浸潤(rùn)污穢物而出現(xiàn)的憎水遷移性，必然要受到很大程度的影響。如果外絕緣表面層填充劑顆粒所占的空間體積，按整個(gè)外絕緣材質(zhì)填充劑顆粒所占的空間體積進(jìn)行推算，那么，外絕緣表面硅氧烷分子末端及活動(dòng)鏈段浸潤(rùn)污穢物而出現(xiàn)憎水遷移性能，受嚴(yán)重影響的只占外絕緣表面層空間體積4/10的氫氧化鋁及少量其它填充劑顆粒的圓頂部分，剩下部分對(duì)硅氧烷分子末端及活動(dòng)鏈段的憎水遷移性能，將不受太大影響。
