對(duì)鑲嵌屏用擊穿電壓測(cè)試儀進(jìn)行絕緣強(qiáng)度試驗(yàn)。試驗(yàn)電壓從零起始，在5s內(nèi)逐漸升到規(guī)定值并保持1min，隨后迅速平滑地降到零值。測(cè)試完畢斷電后用接地線對(duì)被試品進(jìn)行安全放電。

　　對(duì)有半導(dǎo)體器件的電路，在進(jìn)行絕緣強(qiáng)度試驗(yàn)時(shí)應(yīng)采取防護(hù)措施，如拔出有關(guān)插件或短接有關(guān)電路等。

　　6.10 低溫試驗(yàn)

　　低溫室的溫度偏差不大于±2℃，在低溫室內(nèi)試件各表面與相應(yīng)的室內(nèi)壁之間的最小距離不小于150mm。低溫室以不超過(guò)1℃/min速度降溫，待溫度達(dá)到5℃并穩(wěn)定后開始計(jì)時(shí)，保溫2h，再使試件連續(xù)通電2h(電源電壓為額定值)，進(jìn)行功能檢查，應(yīng)能正常工作。然后將試件斷電，以不超過(guò)1℃/min速度升溫，待室內(nèi)溫度恢復(fù)到正常溫度并穩(wěn)定后，將試件取出低溫室進(jìn)行外觀檢查。試驗(yàn)細(xì)節(jié)按GB2423·1“試驗(yàn)Ad”規(guī)定進(jìn)行。

　　6.11 高溫試驗(yàn)

　　高溫室的溫度偏差不大于±2℃，相對(duì)濕度不超過(guò)50%(35℃)。在高溫室內(nèi)，試件各表面與相應(yīng)的室內(nèi)壁之間的最小距離不小于150mm，高溫室以不超過(guò)1℃/min速度升溫，待溫度達(dá)到40℃并穩(wěn)定后開始計(jì)時(shí)，保溫2h。再使試件連續(xù)通電2h(電源電壓為額定值)，檢查試件的各種功能應(yīng)正常。然后將試件斷電，以不超過(guò)1℃/min速度降溫;待室內(nèi)溫度恢復(fù)到正常溫度并穩(wěn)定后，將試件取出高溫室進(jìn)行外觀檢查。試驗(yàn)細(xì)節(jié)按GB2423·2“試驗(yàn)Bd”規(guī)定進(jìn)行。

　　6.12 濕熱試驗(yàn)

　　試驗(yàn)室的溫度偏差不大于±2℃，相對(duì)濕度偏差不大于±2%，裝置各表面與相應(yīng)的室內(nèi)壁之間最小距離不小于150mm，凝結(jié)水不得滴落到試驗(yàn)樣品上。試驗(yàn)室以不超過(guò)1℃/min速度升溫，待溫度達(dá)到40℃，并穩(wěn)定后再加濕到90%～95%范圍內(nèi)，保持48h。在試驗(yàn)過(guò)程最后的1～2h內(nèi)，按5.4.1條規(guī)定用500V兆歐表測(cè)量絕緣電阻，測(cè)量時(shí)間不小于5s。

　　試驗(yàn)結(jié)束后，先把試驗(yàn)室內(nèi)的相對(duì)濕度在半小時(shí)內(nèi)降到75%±3%，然后在半小時(shí)內(nèi)將試驗(yàn)室的溫度恢復(fù)到正常溫度并穩(wěn)定后，將試件取出試驗(yàn)室進(jìn)行外觀檢查。試驗(yàn)細(xì)節(jié)按GB2423·3進(jìn)行。

　　注：對(duì)不便進(jìn)行整機(jī)試驗(yàn)的大型產(chǎn)品，上述的6.10、6.11、6.12條各項(xiàng)試驗(yàn)可僅對(duì)其關(guān)鍵部件進(jìn)行試驗(yàn)。

　　6.13 電源影響試驗(yàn)

　　在試驗(yàn)大氣條件下，按5.4.4條規(guī)定的電源偏差，鑲嵌屏應(yīng)可靠工作，其性能應(yīng)符合技術(shù)要求。

　　6.14 振動(dòng)試驗(yàn)

　　根據(jù)5.1.2條要求，按GB2423·10在三個(gè)互相垂直的軸線上依次進(jìn)行掃頻試驗(yàn)，每軸線掃頻循環(huán)20次，應(yīng)保持試件的結(jié)構(gòu)完好性和工作能力。

　　6.15 亮度試驗(yàn)

　　用屏幕亮度計(jì)測(cè)量燈光顯示元件亮度，應(yīng)符合5.4.5條規(guī)定。