對鑲嵌屏用擊穿電壓測試儀進行絕緣強度試驗。試驗電壓從零起始，在5s內逐漸升到規(guī)定值并保持1min，隨后迅速平滑地降到零值。測試完畢斷電后用接地線對被試品進行安全放電。

　　對有半導體器件的電路，在進行絕緣強度試驗時應采取防護措施，如拔出有關插件或短接有關電路等。

　　6.10 低溫試驗

　　低溫室的溫度偏差不大于±2℃，在低溫室內試件各表面與相應的室內壁之間的最小距離不小于150mm。低溫室以不超過1℃/min速度降溫，待溫度達到5℃并穩(wěn)定后開始計時，保溫2h，再使試件連續(xù)通電2h(電源電壓為額定值)，進行功能檢查，應能正常工作。然后將試件斷電，以不超過1℃/min速度升溫，待室內溫度恢復到正常溫度并穩(wěn)定后，將試件取出低溫室進行外觀檢查。試驗細節(jié)按GB2423·1“試驗Ad”規(guī)定進行。

　　6.11 高溫試驗

　　高溫室的溫度偏差不大于±2℃，相對濕度不超過50%(35℃)。在高溫室內，試件各表面與相應的室內壁之間的最小距離不小于150mm，高溫室以不超過1℃/min速度升溫，待溫度達到40℃并穩(wěn)定后開始計時，保溫2h。再使試件連續(xù)通電2h(電源電壓為額定值)，檢查試件的各種功能應正常。然后將試件斷電，以不超過1℃/min速度降溫;待室內溫度恢復到正常溫度并穩(wěn)定后，將試件取出高溫室進行外觀檢查。試驗細節(jié)按GB2423·2“試驗Bd”規(guī)定進行。

　　6.12 濕熱試驗

　　試驗室的溫度偏差不大于±2℃，相對濕度偏差不大于±2%，裝置各表面與相應的室內壁之間最小距離不小于150mm，凝結水不得滴落到試驗樣品上。試驗室以不超過1℃/min速度升溫，待溫度達到40℃，并穩(wěn)定后再加濕到90%～95%范圍內，保持48h。在試驗過程最后的1～2h內，按5.4.1條規(guī)定用500V兆歐表測量絕緣電阻，測量時間不小于5s。

　　試驗結束后，先把試驗室內的相對濕度在半小時內降到75%±3%，然后在半小時內將試驗室的溫度恢復到正常溫度并穩(wěn)定后，將試件取出試驗室進行外觀檢查。試驗細節(jié)按GB2423·3進行。

　　注：對不便進行整機試驗的大型產品，上述的6.10、6.11、6.12條各項試驗可僅對其關鍵部件進行試驗。

　　6.13 電源影響試驗

　　在試驗大氣條件下，按5.4.4條規(guī)定的電源偏差，鑲嵌屏應可靠工作，其性能應符合技術要求。

　　6.14 振動試驗

　　根據5.1.2條要求，按GB2423·10在三個互相垂直的軸線上依次進行掃頻試驗，每軸線掃頻循環(huán)20次，應保持試件的結構完好性和工作能力。

　　6.15 亮度試驗

　　用屏幕亮度計測量燈光顯示元件亮度，應符合5.4.5條規(guī)定。